扫描电镜测样服务

北京培科创新技术有限公司现推出测样服务：

 

一、设备型号：

 

  日本电子JCM-7000台式扫描电镜

 

二、原理

 

       SEM的工作原理是用一束极细的电子束扫描样品，在样品表面激发出次级电子，次级电子的多少与电子束入射角有关，也就是说与样品的表面结构有关，次级电子由探测体收集，并在那里被闪烁器转变为光信号，再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度，显示出与电子束同步的扫描图像。图像为立体形象，反映了标本的表面结构。

 

三、性能

1.×10～100000，直接放大倍率；24~202168，显示放大倍率。

2. 0～30光学放大。

3.仪器搭配背散射电子探测器，二次电子探测器，EDS能谱分析仪。

4.元素测试范围B（5）-U（92）

5.能谱性能：分辨率不低于129eV(MnKα)，有效面积：30mm2。

另附元素激发能量表（临界）

 

 

四、服务项目

1．金属、陶瓷、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料、食品、农作物等材料的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析。

2．各种材料微区化学成分的定性和定量检测；金属材料牌号的确定。

3．机械零部件、电子元器件失效分析。

4．粉末、微粒纳米样品形态和粒度的测定。

5．复合材料界面特性的研究。

6．表面微量污染物、异物及其来源分析。

7．表面镀层成分、镀层厚度与结构分析。

 

五、送样需知

 

1.不导电样品需做喷金处理，不额外提供制样服务。

2.样品尺寸不大于50mm(H)x80mm(D)

喷金效果比对：

 

六、其他

 

1. 可提供“低真空”（20Pa）、“电荷减轻模式”（60Pa）条件下的样品测试。
2. 可提供元素分析报告（点、线、面）。

 

注：低真空环境有利于对不导电的样品进行直接观测，同时可避免部分样品由于真空条件导致的损坏，下图为低真空模式对样品测试的示意图：

样品：名片

1000x，未喷金的名片，放电明显，无法观测有效信息。

 

2200x，低真空模式，部分区域放电明显，成像质量较喷金样品差区别明显

1000x，减轻电荷模式，放电效果进一步减轻，可观测部分表面形貌

 

10000x，喷金后的名片，成像质量高，细节信息丰富。

 

 

 

七、应用领域及分析案例

  陶瓷、高分子、粉末、环氧树脂、地质、冶金、矿物、污泥（杆菌） 、机械、电机及导电性样品，如半导体(IC、线宽量测、断面、结构观察 ）电子材料等。

 

八、联系方式

王经理：15948310202

邮箱：rocky.wang@peakscience.cn