利用JSM-7800F观察太阳能电池截面

SM相关产品：JSM-7800F, CP IB-19500CP    领域：观察太阳能电池的截面

利用JSM-7800F观察CP加工的太阳能电池截面
      近年来在太阳能电池的研究中，光电转换效率非常高的铜铟镓硒薄膜太阳能电池 (CIGS） 倍受瞩目。观察CIGS的多层膜结构在研究中占有重要地位，需要结合EDS、EBSD等技术进行多 种测试分析。下面介绍使用CP (截面抛光仪)和配置在JSM-7800F下方的背散射电子检测器 (BED)进行观察的实例。

CIGS的背散射电子像及EDS分析

下面是对太阳能电池的切割加工截面和CP加工截面的背散射电子像的观察。在左图中，可以看到 解理面上沿晶粒边界呈现出凹凸不平，而右图中使用CP加工的截面非常光滑，因此能清晰地观察到 左图中不明确的、存在于ZnO和CIGS之间的CdS层因成分不同形成的衬度差异，以及由于因晶体取向 不同形成的通道衬度。配置在下方的背散射电子检测器(BED)检测低角度背散射电子，能获得增强 了通道衬度的图像，由于在大WD下也能够高效率地检测电子，因此在获取背散射电子像的同时还能 进行EDS面分布。

资料提供： 東京工业大学 山田研究室

SEM观察

 

  EDS分析

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