利用JSM-7800F观察太阳能电池截面

SM相关产品:JSM-7800F, CP IB-19500CP    领域:观察太阳能电池的截面

利用JSM-7800F观察CP加工的太阳能电池截面
      近年来在太阳能电池的研究中,光电转换效率非常高的铜铟镓硒薄膜太阳能电池 (CIGS) 倍受瞩目。观察CIGS的多层膜结构在研究中占有重要地位,需要结合EDS、EBSD等技术进行多 种测试分析。下面介绍使用CP (截面抛光仪)和配置在JSM-7800F下方的背散射电子检测器 (BED)进行观察的实例。

CIGS的背散射电子像及EDS分析

下面是对太阳能电池的切割加工截面和CP加工截面的背散射电子像的观察。在左图中,可以看到 解理面上沿晶粒边界呈现出凹凸不平,而右图中使用CP加工的截面非常光滑,因此能清晰地观察到 左图中不明确的、存在于ZnO和CIGS之间的CdS层因成分不同形成的衬度差异,以及由于因晶体取向 不同形成的通道衬度。配置在下方的背散射电子检测器(BED)检测低角度背散射电子,能获得增强 了通道衬度的图像,由于在大WD下也能够高效率地检测电子,因此在获取背散射电子像的同时还能 进行EDS面分布。

资料提供: 東京工业大学 山田研究室

SEM观察

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  EDS分析

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