JEOL SEM在失效分析中的优势

JEOL SEM在金属失效分析中的优势

 

优势

       高空间分辨率

       景深大

       快速导航的相关分析

       多种分析功能 - EDSWDSCLEBSDMicro-CT

       大样品室用于无损观察

       原位分析,便于处理大型不规则样品

       原位动态测试,加热,冷却,EBIC和纳米操作

       LV包括扩大的成像样本压力收到

       高吞吐量

       易于使用的GUI

       拉伸试验和疲劳分析

 

室内阶段允许不规则形状和大尺寸样品的安全定位。

以下是一个关于金属断口失效的具体案例介绍:

当金属材料失效时,常常通过观察金属的断口来分析其失效原因,以下是一些典型的断裂案例。(二次电子像)

不同的断裂过程产生的断口会显示不同的微观形貌特征。

 疲劳断裂:条状花样简称辉纹”(奥氏体系列不锈钢)

 沿晶脆性断裂 :冰糖状断口(铸铁)

 韧性断裂:微孔被称之为韧窝(奥氏体系列不锈钢)

 扭转断裂:顺时针方向施加应力(奥氏体系列不锈钢)

以上四种特征的断口特征均可通过微观形貌的观察进行辨别。

img1

img2

利用SEM观察之前,先用光学显微镜在几十倍左右的放大倍数下观察宏观断口形貌,可以帮助确认感兴趣区域和抛光情况。同时利用SEM可以进行更精细的微观分析,微米级,纳米级尺寸的测量,尤其对于粗糙不平需要获得大景深的材料,容易产生阴影的断面也能轻松应对。另外, JCM-7000/ IT500可轻松编辑图像,比如将几张二次电子像拼接在一起,就可以获得一整张二次电子像图片(如上图所示),如果将光学显微镜图片拼在一起的话,入射光的方向会随着样品台的移动而改变,图片拼接在一起后会形成明显的边界(如上图中光学显微镜中间的部分所示)。

 

浏览量:0

◆  技术文章