绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统

面对电子产品越来越小型轻量及高密度封装，因结露吸湿等因素造成的绝缘不良现象暨离子迁移现象日益突出，绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统配之以高温高湿试验箱联动，可高精度连续监测，高效简便评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。

适用标准：JPCA-ET04、IPC-TM-650_2.6.3F 、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A 、IPC-TM-650_2.6.3.6。

产品特点：

高精准测量
自主开发连续通电扫描继电器方式，配备国际标准的测量仪表，与环境试验箱联动，操作更简便更安全。
应力电压范围广泛
标配100V应力电压（应力电压/测量电压），更有300V、500V高电压规格备选。
连续通电扫描方式
ESPEC独有扫描动作技术，切换扫描时不发生无电压状态，测量电压与偏置电压均使用同一电压源控制，可准确控制电压。
漏电流检测功能
高速准确捕捉离子迁移现象发生的细微变化，离子迁移实时监测。
专用统计软件
「E-Graph」可实时编辑预览监测实时获得的数据。
专用连接样件夹具
选配可使连接样品及线缆更方便，试验效率更高。