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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜

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JEM-ARM300F实现了世界最高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,最高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。

 

·实现了世界最高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率

·JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器,最高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。

·STEM-HAADF像的保证分辨率达到了前所未有的58pm

·采用JEOL自主研发的球差校正器,扫描透射像(STEM像)的保证分辨率可达58pm(300kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时)。

·ETA校正器 JEOL自主研发的12极球差校正器 ※选配件

·ETA校正器(Expanding trajectory aberration corrector)是JEOL研发的扩展轨道型12极球差校正器。可以在用户现场加装STEM球差校正器及TEM球差校正器。

·强大的冷场发射电子枪HyperCF300

·标配了全新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。

·两种物镜极靴

·为了支持用户广泛的需求,研发了两种各具特点的物镜极靴。

·丰富的选购件

·能安装超大立体角EDS(能谱仪)、EELS(电子能量损失谱仪)、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。

·大范围的加速电压设置

·标配300kV和80kV下的球差校正数据,可选的加速电压范围从40KV?300kV,使用范围极广。

·新开发的真空系统

·新的排气系统达到了极高的真空度,在原子尺度的图像观察和分析中,最大限度地减轻了对样品的污染和损伤。

·高稳定的镜筒和样品台

·整体稳定性高、直径330mm的镜筒增加了机械刚度, 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上,把电气稳定性和对环境的抗干扰能力提高到新高度。

                                                                                                                      分辨率                                               300 kV,80 kV

物镜种类※1

UHR极靴

HR极靴

STEM分辨率(300kV) 使用STEM校正器

0.058nm

0.063nm

TEM分辨率(300 kV)

线分辨率0.05nm

线分辨率0.06nm

使用TEM校正器

非线性信息分辨极限0.06nm

非线性信息分辨极限0.07nm

线性信息分辨极限0.09nm

线性信息分辨极限0.12nm